南开大学：脑机接口传感器安全取出试验成功，技术安全性提升

　　南开大学近日宣布，进行了介入式脑机接口传感器及无线传输模块的安全取出试验。这是首次实现此类设备的安全取出，显著提升了介入式脑机接口技术的安全性。此次试验为该技术的临床应用提供了坚实保障，预示着未来在医疗健康领域的广泛应用潜力。